HIOKI THIẾT BỊ PHÂN TÍCH TRỞ KHÁNG IM7581

Thiết Bị Phân Tích Trở Kháng với Dải Tần Số Đo từ 100 kHz đến 300 MHz, Tốc Độ Kiểm Tra 0.5 ms

Thiết Bị Phân Tích Trở Kháng và Đo LCR  của Hioki với dải đo từ 1 mHz đến 3 Ghz đáp ứng đa dạng ứng dụng kiểm tra linh kiện điện tử. IM7581 cung cấp thời gian kiểm tra nhanh nhất  là 0.5 ms trên dải tần số 100 kHz đến 300 MHz, là thiết bị lý tưởng đối với sản xuất số lượng lớn ferrite chip bead và chip inductor.

Đo LCR bằng Test Fixture SMD IM9201: Series Phân Tích Trở Kháng IM7580

Series IM7580 gồm 5 model với tần số đo trải từ 1 MHz đến 3 GHz. Khi kết hợp với Test Fixture IM9201 đáp ứng được 6 kích thước SMD, các thiết bị thuộc Series IM7580 cho phép bạn đo các mẫu một cách dễ dàng và tin cậy.

Tính năng chính:

• – Tần số kiểm tra từ 100 kHz đến 300 MHz
• – Thiết bị có kích thước ½ rack và đầu kiểm tra cỡ lòng bàn tay
• – Tốc độ kiểm tra nhanh nhất – 0.5 msec (Thời gian đo Analog)
• – Kiểm tra tiếp xúc toàn diện (thông qua kiểm tra DCR, Hi-Z reject hoặc đánh giá dạng sóng)
• – Độ chính xác cơ bản ±0.72% rdg.
• – Thực hiện quét tần số, quét mức đo và đo khoảng thời gian trong Chế Độ Phân Tích

Đảm bảo độ chính xác: 1 năm, Thời gian đảm bảo độ chính xác sau khi hiệu chỉnh bởi Hioki: 1 năm